ポーラ研究所、個肌対応化粧品の肌分析力をアップして肌のキメを自動評価する技術を開発

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2008年11月18日

ポーラ研究所、個肌対応化粧品の肌分析力をアップして肌のキメを自動評価する技術を開発

　ポーラ研究所は、東京理科大学工学部・小林研究室との共同研究によって、肌表面のキメを最新の画像解析技術（短直線マッチング法）によって分析し、自動的に評価する技術を開発した。

　肌のキメは、皮膚表面の凹凸である皮溝と皮丘によって形成され、年齢や肌荒れ等の肌状態によって変化するため、肌評価の重要な項目であり、肌の美しさを構成する要因のひとつとなっている。

　従来、肌のキメの総合的な評価は、専門家の目視による評価にゆだねられていたが、複数の専門家による目視評価は、人によって微妙に評価の違いが生じることもあった。しかし、コンピューターによるキメ解析は、個々の微細な特徴の評価には優れている反面、人の目視評価のように全体を総合的に評価することはできず、結局、専門家の目視評価以上のものは存在しない状況だった。

　今回の最新の画像解析技術の開発よって、キメ評価の安定した再現が可能になるとともに評価の精度も向上し、肌の微細な状態変化を正確にキャッチできるため、5段階だったキメ評価を10段階で評価することが可能になったという。また、肌の評価精度の向上は、製品の個肌マッチング向上にもつながり、より消費者の肌に合あった製品を提供できるだけでなく、より高い美容アドバイスを提供することも可能になった。さらに、化粧料使用前後のキメを評価することで、化粧料の有用性評価研究にも応用でき、化粧品開発への活用が期待される。

　この研究は、11月26日に東京で開催される「日本化粧品技術者会研究討論会」で発表する予定。なお、この技術は来年度から、ポーラの個肌対応化粧品の肌分析に取り入れる考え。品質向上にもつなげる予定となっている。

●最新の画像解析処理（短直線マッチング法）の結果例など［PDF］

ポーラ＝http://www.pola.co.jp/

投稿日時: 2008年11月18日 20:52 | パーマリンク　｜ ▲このページの上へ
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